Funktional sicher mit „Proven in Use" oder „SIL by Design"?
SIL by Design vs. Proven in Use – welcher Weg zur funktionalen Sicherheit? Systematische Entwicklung oder nachträgliche Qualifizierung? Unser neuer Fachartikel in der HANSER automotive (Ausgabe 6/2025) beleuchtet beide Ansätze zur SIL-Zertifizierung…
Neue Anforderungen und praxisnahe Lösungen für sichere digitale Produkte. Artikel von Trevor Martin und Anna Brotzer, Veröffentlichung in Elektronik Ausgabe 3, am 9. März 2025
Im Artikel “Early testing in motor control projects: Improving development efficiency” in DENA, Januar/Februar Ausgabe werden die Vorteile von frühen Tests mittels mini-HIL Testing in Motorsteuerungsprojekten besprochen.
Möchten Sie die Anzahl der Testfälle reduzieren, die zum Erreichen einer 100%igen Codeabdeckung erforderlich sind? Erfahren Sie mehr im Online Artikel von Frank Büchner in Embedded Software Engineering.
Wo Code-Coverage-Messung nicht ausreicht, ist die Antwort die Code-Access-Analyse. Ein Artikel von Frank Büchner, Principal Engineer Software Quality bei Hitex, erschienen im E-Paper der Elektronik 12/2024.
25 Jahre nach der ersten Ausgabe der MISRA-Richtlinien sind die MISRA C immer noch die wichtigsten Kodierungsrichtlinien für die Sprache C. Das neueste Hitex-Whitepaper von Frank Büchner, Principal Engineer Software Quality, untersucht die…
Whitepaper „Simplifying ISO 26262 Certification with TrustInSoft Analyzer“
Das TrustInSoft Whitepaper "Simplifying ISO 26262 Certification with TrustInSoft Analyzer" enthält Analysen, Fallstudien und praktische Lösungen, die bei der Bereitstellung sicherheitskritischer Software unterstützen.
Die Änderungen 3 und 4 zu MISRA C:2012 wurden veröffentlicht, was zu MISRA C:2023 führte. Was sind die Unterschiede zur 1. Revision von MISRA C:2012? Lesen Sie den Artikel von Frank Büchner.
![[Translate to deutsch:] Whitepaper: Cybersecurity with Arm TrustZone](/fileadmin/assets/images/News/hitex-whitepaper-cra-591x332.jpg "[Translate to deutsch:] Whitepaper: Cybersecurity with Arm TrustZone")
![[Translate to deutsch:] Hitex Article in ELEKTRONIKPRAXIS 08/2026](/fileadmin/assets/images/News/Railway-Article-alternativ-version2-592x332.jpg "[Translate to deutsch:] Hitex Article in ELEKTRONIKPRAXIS 08/2026")
![[Translate to deutsch:] TrustZone for ArmV8 controllers](/fileadmin/assets/images/News/724x543_arm-v8-article.jpg "[Translate to deutsch:] TrustZone for ArmV8 controllers")
![[Translate to deutsch:] MISRA](/fileadmin/assets/images/News/392x300_MISRA-C2012.jpg "[Translate to deutsch:] MISRA")
![[Translate to deutsch:] Security & programming guidelines](/fileadmin/assets/images/News/392x300_ese-article2022.jpg "[Translate to deutsch:] Security & programming guidelines")
![[Translate to deutsch:] Automated Mutation Testing](/fileadmin/assets/images/News/392x300_Mutationstest-Artikel.jpg "[Translate to deutsch:] Automated Mutation Testing")
![[Translate to deutsch:] With tool support to security](/fileadmin/assets/images/News/csm_392x300safety-security_4af92f0b89.jpg "[Translate to deutsch:] With tool support to security")
![[Translate to deutsch:] Software-Unit-Verifikation with IEC 62304](/fileadmin/assets/images/News/392x300_MED-Buechner-11-2021.jpg "[Translate to deutsch:] Software-Unit-Verifikation with IEC 62304")
![[Translate to deutsch:] Fault Injection, Robustness Testing, and Code Mutation Testing](/fileadmin/assets/images/News/csm_robustness_test_0c37580450.jpg "[Translate to deutsch:] Fault Injection, Robustness Testing, and Code Mutation Testing")
![[Translate to deutsch:] BARR specifications as a guideline](/fileadmin/assets/images/News/csm_392x300_Art-BARR_f89fcaeffb.jpg "[Translate to deutsch:] BARR specifications as a guideline")
![[Translate to deutsch:] Automated testing of embedded software](/fileadmin/assets/images/News/392-Finger_on_virtual_touchscreen.jpg "[Translate to deutsch:] Automated testing of embedded software")